Standard-Prüfstift mit Tastkopf, Vierfach-Krone, Ø 1.3 mm, Hub 6.4 mm, RM 2.54 mm, L 33.3 mm, F10014B130G200 Neu

Für bestückte und unbestückte Leiterplatten, auch für SMD; Herausragehöhe: 8,4 bis 16 mm, Treffgenauigkeit: ±0,08 mm, Temperatur: -20 bis +80 °C, Maximal-Dauerstrom: 5,0 A, typischer Durchgangswiderstand: 30 m Ohm, Mantel: Neusilber, vergoldet, Hülse: Neusilber, vergoldet, Durchgangswiderstand: typ. 30 m Ohm, Kopfformen: 05 abgesetzter Innenkonus (Tulpe), 06 abges. Waffel, 07 abges. Außensechskant 90°, 10 flexible Nadel, 11 Rundkopf, 12 abges. Rundkopf, 14 abges. Vierfach-Krone, 15 abges. Dreikant, 18 Kegel 30°, 20 abges. Vierfach-Krone mit Flächen, 21 Vierfach-Krone, 33 asymmetrischer Vierkant (Lanze) 38°, 34 abges. starre Nadel 15°, 36 abges. Sechsfach-Krone mit voreilender Innenspitze, 37 abges. Vierfach-Innenkrone, 38 asymmetrischer Vierkant (Lanze) 90°, 43 asymmetrischer Vierkant (Lanze) 90°, 64 abges. Mini-Waffel.

Mit Federkraft 200 cN ±20 % Typ F100.

Maximal-Hub: 6,4 mm, Nenn-Hub: 4,3 mm, Vorspannung: 80 cN, Durchgangswiderstand: typ. 30 m Ohm.

Technische Merkmale (Typ, Kolben mit Kopfform, Kopfdurchmesser (Kd), Material, Oberfläche (Lz-Gold ist Langzeitgold für besonders hohe Standzeit)): F100.14B130G200, Prüfstift m. Kopf 14, Hd 1,3 mm, CuBe, Gold.